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 Hochauflösendes Mikrofokus Röntgensystem x|argos |
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nanofocus-Computertomographiesystem |
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Ultra-hochauflösendes Computertomographiesystem v|tome|x l 240 |
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 Hochauflösendes Mikrofokus Röntgensystem x|argosDas hochauflösende Mikrofokus Röntgensystem x|argos dient zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung sowie zur dimensionellen inneren Vermessung z. B. von größeren Gussteilen und Schweißverbindungen. Es werden Materialfehler wie Lunker, Einschlüsse, Porositäten bzw. Auflockerungen und Risse in Bestrahlungsrichtung erkannt oder Maßabweichungen geprüft Varianten: Hochauflösendes Mikrofokus Röntgensystem x|argos |
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Röntgen-Inspektionssystem bench|mate |
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Hochauflösendes Submicron-Röntgensystem microme|x |
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Mikrofocus-Röntgensystem ml|inspector für Leiterplatten |
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Ultra-hochauflösendes nanofocus-Röntgensystem nanome|x |
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Hochauflösendes Röntgeninspektionssystem ndt|analyser |
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Mikrofocus-Röntgeninspektionssystem pcba|inspector für Leiterplatten |
